電纜及導線

電纜額定電壓以 U0/U (Um) 形式標示：U0 為導體對地（或金屬遮蔽）之額定電壓，U 為導體對導體之額定電壓，Um 為可承受的最高系統電壓。IEC 60502-1 涵蓋 0,6/1 kV 與 1,8/3 kV；IEC 60502-2 涵蓋 3,6/6 kV 至 18/30 kV。

2 個定義語境

外被覆（Oversheath）為電纜最外層擠製護套，提供機械保護、防潮與抗紫外線老化。IEC 60502-1/2 均要求所有電纜具備外被覆，標稱厚度由公式 ts = 0,035 D + 1,0 mm 計算。

2 個定義語境

導體遮蔽層（Conductor screen）為中壓電纜中緊貼導體外層的非金屬半導電層，由擠製半導電化合物組成並與絕緣層緊密結合，其作用在於平滑導體與絕緣間的電場分布。

絕緣遮蔽層（Insulation screen）由非金屬半導電層與金屬層結合組成。非金屬層為擠製於絕緣外的結合型或可剝型半導電化合物，金屬層則覆蓋於各芯或集合線芯之外。

金屬遮蔽層（Metal screen）為中壓電纜中包覆於絕緣遮蔽層外的金屬導電層，型式可為金屬帶、編織、同心金屬線或其組合。其主要功能為接地基準、承載電容充電及故障電流、電場屏蔽與機械保護。

交聯聚乙烯（XLPE）為 IEC 60502-2 Table 2 所列的交聯型絕緣化合物之一，常用於中壓擠型絕緣電纜，依 Table 3 其正常運轉最高導體溫度為 90 °C，短路（5 秒內）最高溫度 250 °C。

乙丙橡膠（EPR 與 HEPR）為 IEC 60502-2 Table 2 所列之交聯型絕緣化合物，EPR 為一般型（EPM/EPDM），HEPR 為高模量／硬質版本；兩者正常運轉導體溫度上限均為 90 °C，短路（5 秒內）為 250 °C。

IEC 60502-2 針對中壓擠型絕緣電纜規範最高導體溫度，分別由 Table 3（絕緣化合物別，給正常運轉與短路溫度）與 Table 4（護套化合物別，給正常運轉溫度）共同決定。

內被層為三芯中壓擠型絕緣電纜中，包覆於三芯集合外圍與金屬層之間的一層包覆結構，依 IEC 60502-2 §8.2.1 可採擠包或繞包方式施作，繞包式須先以填料將芯間空隙實質填滿。

鉛金屬護套為 IEC 60502-2 §12.1 所規定的金屬護套形式，材料為鉛或鉛合金，以無縫管狀施作；標稱厚度依 tpb = 0,03 Dg + 0,7 計算，且不得小於 1,2 mm。

金屬鎧裝為 IEC 60502-2 §13.1 所規範的機械保護層，型式包括扁線、圓線及雙層金屬帶三種；材料依型式可為鍍鋅鋼、銅／鍍錫銅、鋁或鋁合金；交流單芯電纜之鎧裝應採非磁性材料。

同心導體為 IEC 60502-2 Clause 9 所列四種金屬層之一，通常作為電纜之中性線或接地回流路徑；其尺寸與電氣電阻要求由國家法規或標準決定，§11.3 另規範其於三芯與單芯電纜上的施作位置。

電纜彎曲試驗是中壓電纜（6 kV～30 kV）的電氣型式試驗。依 IEC 60502-2 §18.2.4，常溫下將試樣繞試驗圓柱正向、反向往復彎曲共 3 次循環（圓柱直徑依導體直徑 d 與電纜外徑 D 計算上限），後依 §18.2.5 施加 5 pC 局部放電試驗，驗證電纜經彎折後絕緣與遮蔽之完整性。

電纜導體電阻量測是中壓電纜（6 kV～30 kV）的出廠例行試驗。依 IEC 60502-2 §16.2，量測前須在恆溫試驗室穩定至少 12 小時，量測每一導體之直流電阻並校正至 20 °C／km，再與被引標準 IEC 60228 Table 3 之最大值比對。校正前的原始讀值不可直接判定合格。

電纜加熱循環試驗是中壓電纜（6 kV～30 kV）的電氣型式試驗。依 IEC 60502-2 §18.2.7，對導體反覆通電加熱至高於最高運轉溫度 5～10 K（每循環 ≥8 h，含 ≥2 h 維持高溫 + ≥3 h 自然冷卻），共 20 次，模擬長期熱機械應力；末次後依 §18.2.5 施加 5 pC 局部放電試驗驗證絕緣完整性。

無遮蔽電纜絕緣電阻與 4 小時耐壓型式試驗僅適用於 3,6/6 (7,2) kV 無遮蔽絕緣電纜。依 IEC 60502-2 §18.3，移除外被覆後芯浸水 ≥1 h，於常溫與最高運轉溫度各以直流 80～500 V 量測導體對水之絕緣電阻並計算體積電阻率，再於常溫施加 4 U₀ 工頻電壓 4 小時，絕緣未擊穿即為通過。具遮蔽之中壓電纜不執行絕緣電阻試驗。

電纜外皮電氣試驗是中壓電纜的出廠例行試驗（經客戶與供應商協議始執行）。依 IEC 60502-2 §16.5，方法委由 IEC 60229 規定：直流電壓試驗（8 kV/mm、1 分鐘、上限 25 kV）或火花試驗（6 kV/mm 交流、9 kV/mm 直流）。外皮含擠型半導電層者僅可採直流試驗。用以檢出外皮之施工或製造缺陷。

電纜衝擊電壓試驗是中壓電纜（6 kV～30 kV）的電氣型式試驗。依 IEC 60502-2 §18.2.8，於導體高溫（高於最高運轉溫度 5～10 K）下，依 IEC 60230 程序施加 10 次正極 + 10 次負極雷擊衝擊（峰值 60～170 kV 依額定電壓），後於常溫施加工頻耐壓 15 分鐘，絕緣未擊穿即為通過。

電纜局部放電（PD）試驗是中壓電纜（6 kV～30 kV）的出廠例行試驗。依 IEC 60502-2 §16.3，以 10 pC 靈敏度量測，升壓至 2 U₀ 持 10 秒後降至 1.73 U₀，受測物之放電量不得超過宣告靈敏度。型式試驗則要求 5 pC 靈敏度。

電纜半導電層電阻率試驗是中壓電纜（6 kV～30 kV）的電氣型式試驗。依 IEC 60502-2 §18.2.10 與 Annex D，於正常運轉最高導體溫度 ±2 K 下量測擠型導體屏與絕緣屏之體積電阻率，老化前後皆須符合上限（導體屏 ≤ 1 000 Ω·m、絕緣屏 ≤ 500 Ω·m），以驗證屏蔽材料之導電均勻性與長期相容性。

電纜抽樣 4 小時耐壓試驗是中壓電纜（U₀ > 3,6/6 kV）的出廠抽樣試驗。依 IEC 60502-2 §17.9，取至少 5 m 完整試樣，於導體與金屬層間施加 4 U₀ 工頻交流電壓並維持 4 小時，絕緣未擊穿即為通過。本試驗依製造批次抽樣，與每一長度執行的例行耐壓（§16.4，3,5 U₀／5 min）為不同階段。

電纜 VLF 介質損耗（tan δ）試驗是中壓電纜（5 kV～69 kV）的現場診斷方法。依 IEEE 400.2 §5.4，以 0.1 Hz 正弦波在 0.5 U₀ / U₀ / 1.5 U₀ 三階段量測 tan δ，透過平均值（Mean TD）、差分值（DTD）、時間穩定性（TDTS）三項指標評估絕緣劣化程度。出廠型式試驗另依 IEC 60502-2 §18.2.6。

VLF 耐壓試驗是中高壓電纜（5 kV～69 kV）現場竣工及維護試驗的標準方法。使用極低頻率（通常 0.1 Hz）交流電壓，大幅降低對電纜電容充電之設備容量需求。依 IEEE 400.2 Table 3 規定試驗電壓，維持 30～60 分鐘，絕緣未擊穿即為通過。

電纜例行耐壓試驗是中壓電纜（6 kV～30 kV）的出廠例行試驗。依 IEC 60502-2 §16.4，於導體與金屬遮蔽間施加 3.5 U₀ 工頻交流電壓 5 分鐘，絕緣未擊穿即為通過。現場竣工及維護試驗通常改用 VLF 耐壓方式。

中壓 XLPE 單芯電纜截面結構圖解，從中心導體到外被覆逐層展示六層結構（導體 / 導體遮蔽 / XLPE 絕緣 / 絕緣遮蔽 / 金屬遮蔽 / 外被覆）。SVG 內每層同心圓 + 對應右側 callout 編號標籤 + legend 區色塊三套通道直接 `<a href>` 連結至對應名詞，點擊任一即開啟側邊滑出說明。每條 term 共 3 實例 anchor（layer + callout + legend）。