電磁相容性（EMC）驗證（低壓成套開關設備）
Electromagnetic Compatibility (EMC) Verification (Low-voltage Assembly)
適用設備：配電盤及匯流排 / 低壓成套開關設備（PSC-assembly / 配電盤 / MCC）之設計驗證（型式，Annex J）
電磁相容性（EMC）驗證（低壓成套開關設備）為 IEC 61439-1:2020 §10.12 設計驗證（型式），細節見 Annex J（J.9.4 / J.10.12），無對應例行驗證。免試條件（J.9.4.2）：a) 內建裝置 / 元件符合所述環境之 EMC 要求 且 b) 內部安裝與配線依製造商說明 → 最終成套設備免 EMC 試驗。不符者依 J.10.12：無電子電路免試；含電子電路依環境 A / B 做抗擾（Table J.1/J.2，性能準則 Table J.3，如 ESD ±4 kV 接觸 / ±8 kV 空氣）+ 發射（環境 A 限值 IEC 61000-6-4 Table 3~5 / 環境 B 限值 IEC 61000-6-3 Table 1~3；含電信埠另依 CISPR 32）。全被動元件電子設備不需試驗。
安全資訊 — 中風險
EMC 抗擾試驗對受測成套設備施加靜電放電、快速暫態脈衝群、突波、傳導 / 輻射射頻等電磁干擾，部分試驗於帶電 / 通電狀態進行（須評估電氣風險）；發射試驗於電波暗室 / 遮蔽室量測。靜電放電（±4/8 kV）、突波等對人員具電擊風險，須依相關 EMC 標準之安全規定操作。
- 安全眼鏡
- 絕緣手套（帶電抗擾試驗）
- 安全鞋
- 已判別功能單元是否符合 J.9.4.2 a) b)（符合則免試）
- 含電子電路之功能單元不符免試條件者須試驗
- 已依製造商所述 EMC 環境（A 或 B）選定試驗等級
- 性能準則依 Table J.3 由製造商陳述
- 功能單元符合 J.9.4.2 a) b)（內建裝置符合 EMC 要求 + 安裝依製造商說明）即免試
- 全被動元件（二極體/電阻/壓敏電阻/電容/突波抑制/電感）不需試驗
- EMC 環境（A / B）與所述不符
本檢測為 IEC 61439-1:2020 §10.12 規定之設計驗證（型式），細節見 Annex J（J.9.4 性能要求 / J.10.12 試驗），無對應 §11 例行驗證。免試條件（J.9.4.2）：a) 內建裝置 / 元件符合所述環境之 EMC 要求 且 b) 內部安裝與配線依製造商說明 → 最終成套設備免 EMC 試驗。不符者依 J.10.12 試驗：無電子電路免試；含電子電路依環境 A / B 做抗擾（Table J.1/J.2，性能準則 Table J.3）+ 發射（環境 A 限值 IEC 61000-6-4 / 環境 B 限值 IEC 61000-6-3）。驗證方式（§10.6.2）以檢查確認，必要時試驗。
試驗接線圖
檢測四階段
型式試驗 (Type Test)
適用設計驗證（型式）。符合 J.9.4.2 a) b) 免試；不符者依 J.10.12 對含電子電路功能單元試驗。
**免試判別（J.9.4.2）** 1. a) 內建裝置 / 元件是否符合所述環境之 EMC 要求（相關產品或通用 EMC 標準）？ 2. b) 內部安裝與配線是否依裝置 / 元件製造商說明（相互影響、電纜、屏蔽、接地）？ 3. a)b) 皆符合 → 最終成套設備免 EMC 試驗；否則依 J.10.12 試驗。 **抗擾試驗（J.10.12.2，含電子電路者）** 4. 無電子電路（J.10.12.2.1）→ 免試。 5. 含電子電路（J.10.12.2.2）→ 依環境 A / B，值見 Table J.1 / J.2（如 ESD ±4 kV 接觸 / ±8 kV 空氣）；性能準則依 Table J.3。 **發射試驗（J.10.12.3，含電子電路者）** 6. 無電子電路（J.10.12.3.1）→ 免試。 7. 含電子電路（J.10.12.3.2）→ 環境 A 限值 IEC 61000-6-4 Table 3~5；環境 B 限值 IEC 61000-6-3 Table 1~3；含電信埠另依 CISPR 32。
- 為設計驗證（型式，Annex J），無 §11 例行驗證
- 免試條件 J.9.4.2：元件符合 EMC + 安裝依製造商說明
- 無電子電路：抗擾 + 發射皆免試
- 含全被動元件（二極體/電阻/壓敏/電容/突波抑制/電感）不需試驗
- 含電子電路：抗擾依環境 A/B（Table J.1/J.2，準則 Table J.3）
- 發射：環境 A IEC 61000-6-4 / 環境 B IEC 61000-6-3；電信埠 CISPR 32
執行頻率：設計驗證（型式），每一設計 / 系列一次（多為一次性組裝，多數情形以符合 J.9.4.2 免試）
來源：IEC 61439-1 (2020), Clause 10.12
試驗設備
- EMC 抗擾試驗設備 — IEC 61000-4 系列（ESD / EFT / Surge / 傳導 / 輻射），依 Table J.1/J.2 環境 A/B
- EMC 發射量測設備 — 電波暗室 / 遮蔽室 + 接收機，依 IEC 61000-6-4（環境 A）/ IEC 61000-6-3（環境 B）/ CISPR 32（電信埠）
- 性能準則判定 — 依 Table J.3 由製造商陳述之驗收準則
相關名詞
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