電容器介質損耗角正切量測
Measurement of Tangent of Loss Angle (tan δ) of Capacitor
適用設備：電容器及電抗器 / 高壓並聯電容器
電容器介質損耗角正切量測 (tan δ Measurement) 是所有高壓並聯電容器之例行試驗項目。依 IEC 60871-1 §8，以介質損耗測試儀在 0.9～1.1 倍額定電壓下量測，使用排除諧波誤差之方法。損耗要求由製造商與購買方約定。tan δ 是評估電容器介質品質與老化狀態之關鍵參數。
安全資訊 — 高風險
量測須對電容器施加 0.9～1.1 倍額定電壓。電容器儲存大量電荷，斷電後仍可維持高壓。量測前後均須確認電容器已安全放電。
- 絕緣手套
- 安全眼鏡
- 絕緣鞋
- 電容器已完全斷電並確認無電壓
- 電容器已透過內建放電裝置或外部放電電阻安全放電
- LOTO 程序已完成
- 試驗區域已設置安全圍欄與警示標誌
- 電容器外殼有明顯膨脹、漏油或損傷
- 放電程序未完成
- 安全圍欄或聯鎖裝置故障
電容器儲能極大，放電時間可能長達數分鐘。量測前後務必使用放電棒確認殘餘電壓為零。
試驗接線圖
檢測四階段
出廠試驗 (Routine Test)
適用介質損耗角正切量測為所有電容器單元之例行試驗項目（IEC 60871-1 §8）。損耗要求由製造商與購買方約定。
1. 確認電容器已完全斷電並安全放電，LOTO 完成。 2. 以介質損耗測試儀連接至電容器端子。 3. 施加 0.9～1.1 U_N 之電壓，使用排除諧波誤差之方法。 4. 記錄 tan δ 值、電容量與量測溫度。 5. 報告量測系統之精度。 6. 確認 tan δ 值符合製造商與購方約定之損耗要求。
- 損耗要求由雙方約定，標準未規定固定上限值
- 量測須排除諧波誤差
- 浸漬型低損耗介質之 tan δ 在初始激磁後數小時內會下降
- 量測系統精度須報告
執行頻率：出廠時對每一電容器單元量測
來源：IEC 60871-1 (2014), Clause 8.1
型式試驗 (Type Test)
適用高溫下之介質損耗量測為型式試驗項目（IEC 60871-1 §14）。
在升溫條件下量測 tan δ，確認高溫工作時介質損耗不超過設計限值。詳細程序見 IEC 60871-1 §14。
- 升溫試驗目的在確認高溫下介質穩定性
執行頻率：型式試驗（首型或設計變更時）
來源：IEC 60871-1 (2014), Clause 14.1
竣工試驗 (Commissioning)
適用竣工時量測 tan δ 作為未來維護之基準值。
步驟同例行試驗。記錄各單元之 tan δ 值與量測溫度作為基準。
- 建立初始基準值供未來維護比較
執行頻率：安裝竣工時執行一次
來源：IEC 60871-1 (2014), Clause 8
維護試驗 (Maintenance)
適用定期量測 tan δ 可追蹤介質劣化趨勢。tan δ 顯著上升可能指示介質劣化或受潮。
步驟同例行試驗。與歷次記錄比較，關注趨勢變化。
- tan δ 持續上升 = 介質劣化警訊
- 須在相同溫度條件下比較
執行頻率：依維護策略，建議每 1～3 年
來源：IEC 60871-1 (2014), Clause 8
試驗設備
- 介質損耗測試儀（tan δ Bridge） — 精度由量測系統報告，排除諧波誤差，依 IEC 60996 或等效方法校正
- 高壓試驗電源 — 輸出 0.9～1.1 U_N，正弦波形
- 放電棒或放電電阻 — 確保量測前後電容器安全放電
- 溫度計 — 解析度 ±1 °C 以上，記錄量測時環境或電容器表面溫度
相關名詞
發現內容問題？點此回報
標準改版、翻譯錯誤、條款編號不對、缺少資訊都歡迎回報，我們會儘快修正。
發現內容問題？點此回報
標準改版、翻譯錯誤、條款編號不對、缺少資訊都歡迎回報，我們會儘快修正。